從快溫變小型高低溫試驗箱艙內壓力變化機制來看，設備運行時，溫度的快速升降會直接引發艙內氣體熱脹冷縮。在升溫階段，氣體受熱膨脹，艙內壓力隨之上升；降溫時，氣體收縮，壓力降低。例如，當快溫變小型高低溫試驗箱從 25℃快速升溫至 100℃，假設初始壓力為標準大氣壓 101.325kPa，根據理想氣體狀態方程，在忽略氣體泄漏等因素下，艙內壓力可能升高至 125-130kPa；從 80℃驟降至 - 20℃時，壓力則可能降至 80-85kPa。此外，制冷與加熱系統的頻繁啟停、壓縮機工作狀態的調整，也會間接導致艙內壓力出現波動。同時，若試驗箱門體密封不嚴、管路存在微小泄漏，外界空氣的滲入或內部氣體的逸出，會進一步加劇壓力變化的復雜性，使壓力難以維持穩定。

從壓力干擾密封性測試的具體表現來看，不同類型樣品受影響方式各異。對于采用壓力差法檢測密封性的樣品（如汽車發動機缸體、電子產品密封外殼），快溫變小型高低溫試驗箱艙內壓力的不穩定會直接干擾測試壓力基準。例如，在測試汽車發動機缸體密封性時，需向缸體內充入一定壓力氣體（如 200kPa），在穩定環境下通過監測壓力降判斷密封性能。若此時試驗箱艙內壓力從 101kPa 波動至 105kPa，會導致缸體與外界的實際壓力差發生改變，使檢測到的壓力降數據失真，可能將合格產品誤判為泄漏，或掩蓋產品潛在的密封缺陷。對于依靠檢測微小泄漏量（如氦質譜檢漏）來評估密封性的精密樣品（如航空航天元器件、醫療密封件），艙內壓力波動會改變泄漏氣體的擴散路徑與速度。在艙內壓力升高時，泄漏氣體更易擴散至周圍環境，導致檢測到的泄漏量偏大；壓力降低時，泄漏氣體擴散受阻，可能檢測不到實際存在的微小泄漏，嚴重影響測試精度，使產品質量評估出現偏差。