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實(shí)驗(yàn)室環(huán)境粉塵較多，會(huì)影響耐寒耐濕熱折彎試驗(yàn)箱的 “傳感器靈敏度” 嗎？
點(diǎn)擊次數(shù)：51 發(fā)布時(shí)間：2025/9/27
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廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司 |
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一、粉塵影響傳感器靈敏度的核心機(jī)制 耐寒耐濕熱折彎試驗(yàn)箱的傳感器多采用精密結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（如濕度傳感器的電容式探頭、溫度傳感器的鉑電阻元件），粉塵對(duì)其靈敏度的影響主要通過三種機(jī)制實(shí)現(xiàn)。其一，物理阻隔效應(yīng)：粉塵顆粒（尤其是粒徑≤10μm 的細(xì)塵）會(huì)隨氣流進(jìn)入試驗(yàn)腔，或通過設(shè)備縫隙侵入控制系統(tǒng)，逐漸覆蓋傳感器探頭表面。這層粉塵膜會(huì)形成隔熱或隔濕屏障，阻礙探頭與試驗(yàn)環(huán)境的熱交換或水汽接觸，導(dǎo)致傳感器對(duì)溫濕度變化的響應(yīng)滯后，如濕度傳感器響應(yīng)時(shí)間可能從≤3 秒延長(zhǎng)至 10 秒以上。
其二，濕熱協(xié)同侵蝕：設(shè)備 “耐濕熱" 功能運(yùn)行時(shí)，高濕環(huán)境會(huì)使粉塵顆粒吸附水汽形成黏稠積垢，緊密附著在傳感器加熱套、探頭防護(hù)層表面。這種積垢不僅加劇物理阻隔，還可能與傳感器材質(zhì)發(fā)生緩慢化學(xué)反應(yīng)，如含鹽分的粉塵會(huì)腐蝕鉑電阻元件，導(dǎo)致溫度檢測(cè)偏差增大。其三，設(shè)備聯(lián)動(dòng)傳導(dǎo)：粉塵進(jìn)入氣流循環(huán)裝置后，會(huì)隨風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)擴(kuò)散至試驗(yàn)腔各處，直接沖擊未防護(hù)的傳感器探頭，造成探頭表面磨損或敏感元件損傷，破壞其原有的檢測(cè)精度基線。
二、粉塵導(dǎo)致的傳感器故障及試驗(yàn)影響 粉塵引發(fā)的傳感器靈敏度下降，會(huì)對(duì)耐寒耐濕熱折彎試驗(yàn)箱的運(yùn)行和試驗(yàn)產(chǎn)生多重危害。在設(shè)備調(diào)控層面，溫度傳感器被粉塵覆蓋后，會(huì)使 PID 控制器接收虛假低溫信號(hào)，導(dǎo)致加熱系統(tǒng)持續(xù)運(yùn)行，造成試驗(yàn)腔實(shí)際溫度高于設(shè)定值（偏差可達(dá) ±5℃以上）；濕度傳感器積塵則會(huì)出現(xiàn)讀數(shù)虛低，引發(fā)加濕裝置過度工作，使腔體內(nèi)濕度超標(biāo)，甚至觸發(fā)防冷凝裝置誤啟動(dòng)。在試驗(yàn)數(shù)據(jù)層面，溫濕度參數(shù)的失真會(huì)直接影響材料折彎性能檢測(cè)結(jié)果：如低溫折彎試驗(yàn)中，實(shí)際溫度偏高會(huì)使彈性材料斷裂次數(shù)檢測(cè)值偏高，高濕環(huán)境失控則可能導(dǎo)致金屬試樣折彎處銹蝕加速，誤判材料耐候性。更嚴(yán)重的是，粉塵進(jìn)入傳感器接線端子會(huì)造成接觸不良，引發(fā)設(shè)備頻繁報(bào)警停機(jī)，縮短傳感器使用壽命（正常壽命 3-5 年可能縮減至 1-2 年）。
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