生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品

快速溫度變化試驗箱芯片測試專用

一、 產品特點

1. 動態響應： 專為低熱容、高靈敏度芯片設計，實現遠超常規箱體的升降溫速率，精準模擬芯片在啟停、高低功耗切換時的溫度沖擊。

2. 無振運行環境： 采用風機與抗震設計，并優化風道氣流，限度降低設備運行振動，避免微振動干擾芯片的電氣測試結果。

3. 高精度控制： 對芯片測試區域的微環境進行精準控溫，溫度波動極小，確保測試條件的穩定性和重復性。

4. 專用接口集成： 箱體預留標準化的測試通孔或法蘭接口，便于連接測試臺（Test Socket）的線纜、氣路及信號線，確保密封性與測試便利性。

快速溫度變化試驗箱芯片測試專用

二、 技術參數

• 溫度范圍： -70℃ ~ +200℃（覆蓋芯片從存儲到結溫的極限條件）

• 溫變速率： 線性10℃/min ~ 25℃/min，甚至更高（在特定負載下，如芯片測試座）

• 溫度波動度： ≤±0.3℃

• 溫度均勻度： ≤±1.5℃（空載，在芯片承載區域）

• 內箱尺寸： 緊湊型設計，如 400×500×400mm，優化空間以提升氣流效率。

• 數據采樣率： 高頻率溫度采集系統，能捕捉瞬態溫度變化。

三、 產品結構

1. 工作室： 采用鏡面不銹鋼，內壁光滑無縫，確保潔凈度高，防止污染物影響芯片。

2. 專用載物架： 配備高導熱率的測試板安裝支架，確保芯片測試座能與箱內空氣進行高效熱交換。

3. 引線系統： 配置高低溫密封的電氣引線孔，支持多路、高密度線纜穿過，阻抗低，干擾小。

4. 低熱容設計： 內部結構盡可能采用低熱容材料，減少熱慣性，從而提升溫度變化的響應速度。

四、 溫度控制系統

1. 自適應智能控制： 采用基于PID與前饋（Feedforward）結合的算法，能預測并補償因溫度劇烈變化帶來的系統擾動，實現無超調、線性的溫變曲線。

2. 多區控制技術： 在工作室的進口和回風口設置多組傳感器，實現分區域動態調節風溫與風速，確保芯片安裝區域的溫度高度均勻。

3. 實時功率監控： 系統實時監控并動態分配加熱與制冷功率，確保在任何設定點都能提供能量輸出。

五、 用途

專用于芯片的可靠性測試與性能驗證：

• 溫度循環與沖擊測試： 考核芯片封裝不同材料的熱膨脹系數匹配性，暴露鍵合、焊接層面的早期失效。

• 電性能測試： 在高低溫交變過程中，實時監測芯片的電參數（如功耗、頻率、漏電流），繪制其性能與溫度的關系曲線。

• 失效分析： 通過快速溫變，加速誘發芯片的潛在缺陷，用于可靠性篩選與質量評估。

• 壽命老化測試： 模擬芯片在整個生命周期中所經歷的溫度應力，預估其使用壽命。

六、 產品優勢

1. 測試效率倍增： 極快的溫變速率能大幅縮短單次測試周期，加快產品研發與質量認證進程。

2. 數據精準可靠： 溫度均勻性、穩定性和無振環境，為芯片測試提供了近乎理想的條件，保證了測試數據的準確性。

3. 高兼容性與集成度： 專為自動化測試系統設計，支持遠程控制和數據采集，可輕松集成到芯片測試生產線中。

4. 投資回報率高： 雖然初期投入較高，但其提升的測試效率、精度和可靠性，能為芯片制造商節省大量的時間成本與潛在質量風險。

七、 注意事項

1. 負載熱容管理： 需嚴格控制測試板及夾具的熱容量，過大的負載會顯著降低實際溫變速率，影響測試效果。

2. 線纜連接規范： 穿過引線孔的測試線纜應捆扎整齊，避免堵塞風道，并確保密封性，以免影響箱內溫場和制冷效率。

3. 防止冷凝水： 在進行低溫到高溫的循環時，若濕度控制不當，可能在芯片或測試座上產生冷凝水，造成短路。需根據測試規范合理設置程序或使用干燥空氣吹掃。