電子元件測試：快速完成電容、電阻的高低溫循環測試，1 天可替代傳統設備 3 天的測試量；

半導體芯片驗證：模擬 - 55℃~125℃溫變，縮短芯片耐溫極限測試周期，助力研發快速迭代；

生產批量抽檢：高效控溫支持 1 小時內完成 1 批次樣品測試，滿足車間高頻次質檢需求。

溫度范圍：-70℃~150℃，溫變速率 5~20℃/min（可調）；

控溫精度：±0.5℃，溫度均勻度≤±1.5℃；

試驗效率：從 - 40℃升至 125℃僅需 8 分鐘，單次高低溫循環測試時間較普通設備縮短 40%；

工作室容積：15L~30L，供電 220V±10% 50Hz，連續運行能力≥1000h。

穩定性：連續 100 次高低溫循環測試，溫變速率波動≤±1℃/min，無性能衰減；

環境適配：在 35℃室溫下，仍能穩定維持 - 55℃低溫，控溫不受外界環境干擾；

兼容性：適配不同規格樣品，同時測試多組樣品時，控溫精度不受影響。

縮短周期：高效控溫使整體試驗時間平均縮短 50%，助力產品快速上市；

精度不妥協：極速溫變下仍保持高精度控溫，測試數據可靠，無需二次驗證；

成本優化：縮短試驗時間的同時降低能耗，年均電費節省 25%。

智能程序：支持 100 組自定義試驗程序，可預設多段溫變曲線，自動執行測試；

數據追蹤：實時記錄溫變曲線與測試時長，數據導出便捷，便于效率分析；

異常預警：溫變速率異常時自動報警并調整參數，避免試驗中斷，保障效率；

批量測試：工作室合理布局，支持多組樣品同步測試，進一步提升試驗效率。

極速溫變響應：采用雙級變頻壓縮機制冷與高頻石英加熱管，溫變速率達 20℃/min，較普通設備提升 50%，快速實現高低溫切換；

精準控溫邏輯：雙 PID 閉環控制 + 三點測溫技術，溫度波動≤±0.3℃，避免因溫度偏差導致的測試返工；

節能控溫設計：變頻風機與動態功率調節技術，高溫段與低溫段自動適配功率，控溫效率提升 30%，減少無效能耗。