近日，廣皓天與中國某研究所正式達成戰(zhàn)略合作，聯(lián)合共建 “芯片環(huán)境測試中心”。該中心聚焦車規(guī)級、工業(yè)級芯片的環(huán)境可靠性驗證，其中廣皓天自主研發(fā)的大型高低溫試驗設(shè)備憑借精準控溫能力與穩(wěn)定性能，成為芯片溫度測試環(huán)節(jié)的核心驗證設(shè)備，為我國芯片自主研發(fā)提供關(guān)鍵測試支撐。

相較于傳統(tǒng)測試設(shè)備，廣皓天為該中心定制的大型高低溫試驗設(shè)備具備三大核心優(yōu)勢：一是控溫精度達 ±0.5℃，可模擬高海拔、極寒地區(qū)等復(fù)雜環(huán)境下的溫度波動，精準捕捉芯片參數(shù)變化；二是設(shè)備腔體容積達 500L，支持多批次芯片同步測試，且配備多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，能實時記錄不同溫度段下芯片的電流、電壓、信號傳輸?shù)汝P(guān)鍵數(shù)據(jù)；三是搭載抗電磁干擾模塊，避免測試過程中外部信號對芯片性能數(shù)據(jù)的干擾，確保驗證結(jié)果的準確性。

“在車規(guī)級芯片低溫可靠性測試中，廣皓天的大型高低溫試驗設(shè)備表現(xiàn)尤為突出。” 中科院該研究所項目負責人介紹，“我們曾通過該設(shè)備對某款車規(guī) MCU 芯片進行 - 40℃至 125℃的循環(huán)沖擊測試，設(shè)備連續(xù)運行 3000 小時，精準輸出芯片在溫度驟變下的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)，為芯片設(shè)計優(yōu)化提供了重要依據(jù)。” 目前，該中心已通過大型高低溫試驗設(shè)備完成 12 款國芯片的環(huán)境可靠性驗證，其中 3 款芯片成功通過車規(guī)認證，進入車企供應(yīng)鏈。