快溫變測試的核心是維持精準的溫度變化速率（如 5-25℃/min），高低溫測試則要求箱內溫度長期穩(wěn)定在目標值（波動≤±0.5℃）。中途打開箱門時，箱內外存在巨大溫差的空氣會迅速交換。例如，當箱內處于 - 40℃低溫測試狀態(tài)，打開箱門瞬間，外界常溫空氣涌入，會導致箱內溫度在 1-2 分鐘內上升 5-10℃；若箱內正進行 85℃高溫測試，外界冷空氣進入會使局部溫度驟降，破壞原有的溫度場均勻性。這種溫度波動并非設備正常調節(jié)的結果，會讓樣品經歷非預期的溫度沖擊，與預設的測試條件產生偏差。

環(huán)境測試數(shù)據(jù)的價值在于可重復性和準確性，而中途開門添加樣品會使測試過程出現(xiàn) “斷點"。例如，在對電子元件進行 - 40℃至 85℃的快溫變循環(huán)測試時，若在第 10 次循環(huán)中途開門，溫度波動會導致元件經歷額外的熱應力，后續(xù)測試數(shù)據(jù)無法反映其在連續(xù)循環(huán)下的真實性能。此外，開門后重新穩(wěn)定溫度需要時間（通常 5-15 分鐘），這段時間內的溫度曲線、樣品響應數(shù)據(jù)會偏離預設軌跡，使整個測試數(shù)據(jù)鏈斷裂，失去參考意義。對于需要通過行業(yè)認證的測試（如汽車零部件的 ISO 16750 標準測試），此類操作會直接導致測試結果無效。

設備的制冷 / 制熱系統(tǒng)為維持目標溫度或溫變速率，會處于高負荷運行狀態(tài)。中途開門導致的溫度驟變，會迫使系統(tǒng)緊急啟動功率調節(jié)（如壓縮機超頻運轉、加熱器滿功率工作），這種瞬時負荷沖擊會加速壓縮機、電磁閥等核心部件的老化，縮短設備使用壽命。同時，低溫測試時箱門打開，空氣中的水分會在蒸發(fā)器表面快速凝結成霜，甚至結冰，影響制冷效率；高溫測試時，箱內熱氣外泄可能導致設備周邊溫度驟升，存在燙傷操作人員的風險，也可能影響周邊儀器的正常工作。